不同測試場景對探針的性能和規(guī)格要求各異，以下是一些適合不同測試場景的探針型號推薦：

PCB在線測試（ICT）：華榮華SP040探針，針身直徑0.61mm，總長度35.9mm，額定電流2A，接觸電阻30毫歐姆，適用于一般的在線測試場景；華榮華SP156探針，直徑2.36mm，額定電流5A，接觸電阻50毫歐姆，可用于對電流承載能力要求較高的PCB測試。

PCB功能測試（FCT）：INGUN標準彈簧探針，具有多種針頭形狀和連接方式，可滿足不同的測試需求；INGUN E-Type?探針，具有較高的預(yù)緊力，能在測試過程中確保可靠觸探，適用于臟污表面的觸探。

半導體芯片測試：會芯半導體的懸臂探針卡，可支持單排最小40um pad管腳間距，超短懸臂設(shè)計可應(yīng)用于3GHz@-3dB高速芯片測試，適用于小間距、鍵合焊線封裝類芯片測試；3D MEMS微懸臂探針卡，如Takumi Probe Card，最小支持30umx30um的Pad尺寸，探針卡壽命超過100萬次，適用于尖端半導體工藝節(jié)點和先進封裝的小間距、高針數(shù)等復(fù)雜測試需求。

射頻測試：會芯半導體的Membrane/pProbe射頻探針卡，能夠?qū)崿F(xiàn)超過80GHz的測試頻率，具有最小的劃痕度和低電感值，可對從手機射頻前端部件到汽車雷達芯片的任何射頻應(yīng)用進行全面測試。

大電流測試：華榮華SP189探針，直徑3.16mm，額定電流5A，可用于需要承載較大電流的測試場景，如電源模塊測試等。